2008年5月15日 (木)

Note that -- 特筆される

2つのタイプの面上に高い品質のフィルム積層を形成するために、シリコンバッファ層をマスキングしたり、パターン化する処理を必要としないということが特筆される。

Note that it was not necessary tomask/pattern the silicon buffer layer to deposit a high-quality filmstack over both types of surface.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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2008年5月11日 (日)

翻訳スクールの見学会

前回の日記で書いた、
http://xenakis.cocolog-tcom.com/blog/2008/05/post_8db3.html
仕事をもらうことを重視する翻訳スクールの見学会の日程が決まりました。

とりあえず、7月5日(土)、12日(土)の4pm-6pmを予定しています。

まだ、以下の翻訳スクールのサイトが更新されていないと思いますが、上記の日時で行う予定です。
内容の詳細は、以下のサイトを時々ご覧ください。
http://www.qollounge.com/ps/index.php

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2008年5月 1日 (木)

知財翻訳スクール設立へ

エンジニア、弁理士、経営者(翻訳を出すお客様)、翻訳者が一同に集まり、特許翻訳者を育てる知財翻訳スクール設立にほぼ近づきました。
以下のリンクをクリックしてご覧ください。
http://www.qollounge.com/ps/index.php

(ブラウザは、出来る限りIEをお薦めします。
もちろんFirefoxでも構いませんが、画面のレイアウトに少々違いが出る場合があります。)

これまでの翻訳学校とは異なるのは、お客様(クライアント)自体が主体となって、新人翻訳者の育成に力を入れることです。
また、「専門技術」のコースを強化していることです。
「語学は得意だけれど、専門技術がない」という人は多いと思います。そこで、「専門技術」のコースにおいて、スキルアップをして頂きたいと思います。

現在、クライアント自体が持つ翻訳(特に特許関係)の仕事が余っているので、効率よく、翻訳処理をすることを望んでいます。
しかし、現実には、特許関係の翻訳を訳せるほどの実力のある翻訳者が不足しているため、なかなか、迅速に品質の良い特許翻訳をすることができません。
そこで、知財翻訳スクール設立を決定したわけです。

現在、まだ確定していませんが、最初から、クライアントの仕事を行うクラスも追加する予定です。
●このクライアントが直接仕事を提供することが、他の翻訳学校と最も異なる特徴です。
(現在、ホームページには表示していませんが、近日中に追加する予定です。)

また、他の翻訳学校と差別化するために、専門技術の会社の見学もオプションとして加えました。
この見学も、一般人が入室不可能な場所まで入って見ることができます。
また、専門分野で一流のエンジニアに直接会うこともできます。
※これも、他の翻訳学校と異なる特徴です。

5月30日(金)には、臨海副都心センターにある産業技術総合研究所の三宅正人氏や、東大で講義をされている並木幸久氏と直接お会いすることができます。
どちらの方もバイオ技術においては一流の方です。

これから翻訳者になりたい方々の正直な欲求や不安は以下に集約されると思います。

*仕事がほしい
*翻訳者になれるかなー?

その意味でも、今後、新しい形態の知財翻訳スクールをぜひ活用して頂き、知り合いで翻訳者になりたい方々にも、上記知財翻訳スクールのことをお知らせ頂ければ幸いです。

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2008年4月25日 (金)

物理的特性

すべての層におけるすべてのフィルムの物理的特性は、すべての面にわたって、厚さ、元素の含有量ともに極めて均一であった。

All of the film physical properties for all of the layers were highly uniform with respect to thickness and elemental concentration uniformity across the entire surface.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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部分的に補足する文章(カンマ---カンマ)

また、結晶の品質が優れた全厚さ1,100ÅのヘテロエピタキシャルSiGeフィルム(部分的にボロンがドープされている)が、第1ステップで成膜されたエピタキシャルシリコンフィルム上に形成された。

A high crystal quality, heteroepitaxial SiGe film having a total thickness of 1,100A, partially doped with boron, was deposited on the epitaxial silicon film deposited in the first step.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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主語+カンマ+補足の説明文+カンマ+having

連続した、表面が滑らかで、高い均一性を有する全厚さ1,000Åの非晶質のSiGeフィルム(部分的にボロンがドープされている)が、第1ステップで成膜された非晶質シリコン層上に形成された。

A continuous, smooth, highly uniform amorphous silicon germanium film, partially doped with boron, having a total thickness of 1,000A was deposited on the amorphous silicon layer deposited in the first step.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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be reduced to

第5に、ジボランの流量を一定に維持し、ゲルマンの流量を30秒間、10sccmに減らした。

Fifth, the diborane flow was held constant and the germane flow was reduced to 10 sccm for 30 seconds.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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be (also) introduced into

第4に、流量90sccm(inject)のジボラン(100ppm、2slmの超高純度水素ガス)を反応室に導入する一方で、ゲルマンの流量を、10秒間15sccmに変化させた。

Fourth, the flow was changed to 15 sccm for 10 seconds while a flow of 90 sccm (inject) of diborane (100 ppm, 90 sccm mixed with 2slm ultra-pure hydrogen) was also introduced into the reactor.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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2008年4月24日 (木)

be changed to

第3に、流量を、30秒間20sccmに変化させた。

Third, the flow was changed to 20 sccm for 30 seconds.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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保持する

第2に、ゲルマンの流量を、30秒間、30sccmの一定量に保持した。

Second, the germane flow was held constant at 30 sccm for 30 seconds.

特許公表2005-503000
WO02065517より引用

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