コネクタ・アダプタ５０２、５０４は、ＳＭＡ、Ｋ又は他のタイプのコネクタのようなコネクタにおいて終端するケーブル、導波路又は他の伝送媒体から信号を受け取り、且つそれへ信号を供給するよう構成されている。
The connector adapters are configured to receive or deliver electrical signals to/from cables, waveguides, or other transmission media that terminate in connectors such as a SMA, K, or other types of connectors.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図５Ａを参照すると、コネクタ（図示せず）において終端する同軸ケーブル又は他の伝送線で伝搬する入力信号は、コネクタ・アダプタ５０２、５０４を含む同軸対エアーライン遷移部（「遷移部」）５００に導かれる。
With reference to FIG. 5A, an input signal propagating in a coaxial cable or other transmission line that terminates in a connector (not shown) is directed to a coax-to-airline transition ("transition") 500 that includes connector adapters 502, 504.
特許公表２００４－５３１１３０
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導体がまた、電気信号を同軸ケーブル又は他の伝送線又は導波路に戻すよう供給するための出力コネクタに当該電気信号を伝達する。
The conductor also communicates the electrical signal to an output connector for delivery of the electrical signal back to a coaxial cable or other transmission line or waveguide.
特許公表２００４－５３１１３０
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代表的実施形態においては、同軸ケーブル上を伝搬する電気信号が、同軸エアーラインに供給され、そしてエアーラインの導体が、電気信号をサンプリング回路に伝達する。
In representative embodiments, an electrical signal propagating on a coaxial cable is delivered to a coaxial airline and a conductor of the airline communicates the electrical signal to a sampling circuit.
特許公表２００４－５３１１３０
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その上、サンプリングされるべき入力信号が追加の測定装置に又は解析又は使用のための操作装置（ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ ｅｑｕｉｍｅｎｔ）に伝達されることになる場合、サンプリング・システムへの入力信号の供給は、信号アーチファクトを導入すべきでなく、又はさもなければ信号を劣化させるべきでない。
In addition, if the input signal to be sampled is to be communicated to additional measurement apparatus or to operational equipment for analysis or use, then delivery of the input signal to the sampling system should not introduce signal artifacts or otherwise degrade the signal.
特許公表２００４－５３１１３０
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しかしながら、入力電気信号に正確に対応するサンプルを獲得するため、入力電気信号は、信号アーチファクトを導入することなしにサンプリング回路に供給されねばならない。
However, in order to obtain samples that accurately correspond to an input electrical signal, the input electrical signal must be delivered to the sampling circuit without introducing signal artifacts.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図１及び図４Ａ～図４Ｂの代表的サンプリング回路は、数ピコ秒より少ない時間間隔中に得られる入力信号のサンプルを与えるのに適している。
The representative sampling circuits of FIGS. 1, 4A-4B are suitable for providing samples of input signals obtained during time intervals of less than a few picoseconds.
特許公表２００４－５３１１３０
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従って、そのような構成においては、モード選択は、信号サンプルと局部発振器信号とを完全には分離しない。
Thus, in such arrangements, mode selection does not completely separate signal samples and the local oscillator signal.
特許公表２００４－５３１１３０
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ストローブ導波路及びＩＦ導波路の配置は、必ずしも完全に対称である必要はなく、そして対称の欠如は一般的に、局部発振器信号及び信号サンプルが共通導波路モードでＩＦ導波路上に現れる程度を増大するのみである。
Placement of the strobe waveguide and the IF waveguide need not be completely symmetric and a lack of symmetry generally only increases the extent to which the local oscillator signal and the signal samples appear in a common waveguide mode on the IF waveguide.
特許公表２００４－５３１１３０
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その上、図１及び図４Ａの接地平面導体及び他の特徴部と類似の接地平面導体及び他の特徴部は、図４Ｂに図示されていない。
In addition, ground plane conductors and other features similar to those of FIG. 1 and FIG. 4A are not shown in FIG. 4B.
特許公表２００４－５３１１３０
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図４Ｂに示されるように、ストローブ導波路４９６及びＩＦ導波路４９４は、導波路軸４６２に沿って配置されるが、しかし必ずしもそのように配置される必要はない。
As shown in FIG. 4B, the strobe waveguide 496 and the IF waveguide 494 are situated along the waveguide axis 462, but need not be so situated.
特許公表２００４－５３１１３０
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こうして、ＲＦ信号は、より高いサンプリング速度でサンプリングされ、又は１つ又はそれより多い信号プロセッサにより獲得されることができる。
Thus, an RF signal can be sampled at a higher sampling rate, or acquired by one or more signal processors.
特許公表２００４－５３１１３０
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サンプリング回路４００は、サンプリング回路１００の動作と似たやり方で動作することができる。
The sampling circuit 400 can be operated in a fashion similar to that of the sampling circuit 100.
特許公表２００４－５３１１３０
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反復率を調整することにより、ＲＦ信号のいわゆる等価な時間サンプリングされた表示（ｒｅｐｒｅｓｅｎｔａｔｉｏｎ）を取得することが可能になる。
Adjusting the repetition rates permits a so-called equivalent time sampled representation of the RF signal to be acquired.
特許公表２００４－５３１１３０
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実質的に等しい信号及びストローブ反復率を用いて、ＲＦ信号は、そのＲＦ信号が類似の波形を有するその時々に繰り返しサンプリングされ、そして平均化されたサンプル信号値が取得されることができる。
With substantially equal signal and strobe repetition rates, the RF signal is repeatedly sampled at times at which the RF signal has a similar waveform and an averaged sample signal value can be acquired.
特許公表２００４－５３１１３０
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バイアス電圧の調整は、ＲＦ信号の選択された部分がＩＦ出力部３０７、３０９に伝達される効率の選択を可能にする。
Adjustment of the bias voltage permits selection of an efficiency with which a selected portion of the RF signal is communicated to the IF outputs 307, 309.
特許公表２００４－５３１１３０
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例えば、ストローブ・パルス３０３が比較的長いターンオン時間を持つ場合、サンプリング・ダイオードは、ＲＦ信号がＩＦ出力部３０７、３０９に伝達され又は効率的に伝達されるバイアス条件に達するため長い時間を対応的に要求することができる。
For example, if the strobe pulses 303 have relative long turn-on times, the sampling diodes can require correspondingly long times to reach bias conditions in which the RF signal is communicated or communicated efficiently to the IF outputs 307, 309.
特許公表２００４－５３１１３０
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代替として、追加の信号源を設けてバイアス電圧を生成することができる。
Alternatively, an additional signal source can be provided to produce a bias voltage.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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例えば、信号プロセッサ３１１は、バイアス電圧をサンプリング・ダイオード１４２、１４４に印加するバイアス源を含むことができる。
For example, the signal processor 311 can include a bias source that applies a bias voltage to the sampling diodes 142, 146.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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上記で言及したように、その間にＲＦ信号がＩＦ出力部３０７、３０９に伝達される時間間隔の長さは、サンプリング・パルス３０３及びサンプリング・ダイオード１４２、１４４の特性、並びに他の要因に依存する。
As noted above, the length of the time interval during which the RF signal is communicated to the IF outputs 307, 309 depends on the characteristics of the sampling pulses 303 and the sampling diodes 142, 144 as well as other factors.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図３に示されていないが、サンプリングされたＲＦとストローブ出力とを組み合わせたものは、フィルタリングされ、増幅され、バッファされ、加算され、又はさもなければ処理され、そして処理されたものとして信号プロセッサ３１１に供給されることができる。
While not shown in FIG. 3, the combined sampled RF and strobe outputs can be filtered, amplified, buffered, summed, or otherwise processed and delivered as processed to the signal processor 311.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ＩＦ出力部３０７、３０９（即ち、ＩＦ導波路１３８）に伝達される電気信号の一部分は、本明細書で「サンプリングされたＩＦ」（ＳＲＦ）と称され、そしてサンプリング・パルスの持続時間、パルス形状及び振幅、及びサンプリング・ダイオード１４２、１４４の時間応答、並びにサンプリング・パルス３０３とＲＦ信号との間の相対的タイミングに依存する。
The portion of the electrical signal that is communicated to the IF outputs 307, 309 (i.e., the IF waveguide 138) is referred to herein as the "sampled RF" (SRF) and depends on the duration, pulse shape, and amplitude of the sampling pulses and the temporal response of the sampling diodes 142, 144 as well as relative timing between the sampling pulses 303 and the RF signal.
特許公表２００４－５３１１３０
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サンプリング・パルス３０３は、信号源３０５からの電気信号（「ＲＦ信号」）が図３にＩＦ出力部３０７、３０９として表されるＩＦ導波路１３８に伝達されるように、サンプリング・ダイオード１４２、１４４を制御する。
The sampling pulses 303 control the sampling diodes 142, 144 so that an electrical signal ("RF signal") from a signal source 305 is communicated to the IF waveguide 138, represented in FIG. 3 as IF outputs 307, 309.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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サンプリング・パルス３０３は、図３にそれぞれキャパシタ３４６、３４８として示されるダイオード１４６、１４８を介してサンプリング・ダイオード１４２、１４４に伝達される。
The sampling pulses 303 are communicated to the sampling diodes 142, 144 via the diodes 146, 148, shown in FIG. 3 as capacitors 346, 348, respectively.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ＬＯ信号は、ＮＬＴＬ１４３に沿って伝搬し、そしてダイオード１１２、１１４、１１６により整形されて、約３．５ｐｓ（ピコ秒）又はそれより短い持続時間の一連のほぼ対称のサンプリング・パルス３０３を生成する。
The LO signal propagates along the NLTL 143 and is shaped by the diodes 112, 114, and 116 to produce a series of approximately symmetric sampling pulses 303 of duration of about 3.5 ps or less.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ＬＯ信号が、ＬＯ源３０２により与えられ、そして例えば、約１Ｖの振幅の１０ＧＨｚ正弦波電圧、又は例えば、１つ又はそれより多いステップ・リカバリ・ダイオード又は他のデバイスを用いて生成された他の電気信号であることができる。
An LO signal is provided by an LO source 302 and can be, for example, a 10 GHz sinusoidal voltage of amplitude of about 1 V, or other electrical signal, produced with, for example, one or more step recovery diodes or other devices.
特許公表２００４－５３１１３０
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サンプリング回路１００の動作は、そのサンプリング回路１００の一部分に対応するブロック図及び電気的概略図を含む図３を参照して都合良く説明することができる。
The operation of the sampling circuit 100 can be conveniently described with reference to FIG. 3 that includes a block diagram and electrical schematic diagram corresponding to a portion of the sampling circuit 100.
特許公表２００４－５３１１３０
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他の実施形態においては、２つのダイオードが同一の設計寸法を持たないように、ダイオードの大きさをストローブ導波路１０６に沿って徐々に漸減させることができる。
In other embodiments, diode size can taper gradually along the strobe waveguide 106 so that no two diodes have identical design dimensions.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図２を参照すると、ダイオード１１４２は、Ｎ＋ドーピングされたＧａＡｓ基板２００の表面２０１上に形成されているＮ－ドーピングされたＧａＡｓメサ２０２を含む。
With reference to FIG. 2A, the diode 1142 includes an N- doped GaAs mesa 202 that is defined on a surface 201 of an N+ doped GaAs substrate 200.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図２Ａから図２Ｃは、図１のサンプリング回路１００の概略断面図である。
FIGS. 2A-2C are schematic sectional views of the sampling circuit 100 of FIG. 1.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ＩＦ導波路の導体１３４、１３６は、導波路軸１２０に関して対称に、且つその導波路軸１２０からより離れているよう構成されている。
The conductors 134, 136 of the IF waveguide are symmetrically configured with respect to, and more distant from, the waveguide axis 120.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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導電層のパターン化は、フォトリソグラフィ又は他の方法を用いて達成されることができる。
Patterning of a conductive layer can be accomplished using photolithographic or other methods.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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例えば、バラクタ及び超段階ダイオードのような、印加される電圧の関数であるキャパシタンスを持つデバイスを用いることができる。
For example, devices having capacitances that are functions of applied voltage such as varactors and hyperabrupt diodes can be used.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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本明細書で用いられているように、立ち上がり時間は、一般的に、電気信号が最大値の約１０％から最大値の約９０％までの遷移を形成する持続時間を言う。なお、最大値は、印加される電圧の絶対値である。
As used herein, rise time generally refers to a time duration in which an electrical signal makes a transition from about 10% of a maximum value to about 90% of the maximum value, wherein the maximum value is an absolute value of applied voltage.
特許公表２００４－５３１１３０
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典型的には、ダイオード１１２、１１４、１１６は、ＬＯ信号の立ち上がり時間より短い立ち上がり時間を持つストローブ信号を生成するよう配置される。
Typically, the diodes 112,114, 116 are arranged to produce a strobe signal having a rise time that is shorter than a rise time of the LO signal.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ダイオード１１２、１１４、１１６の特性が印加された電圧の非線形関数であるので、ストローブ信号は、ＬＯ入力部１０２、１０４におけるＬＯ信号の対応する時間特性より小さい持続時間、立ち上がり時間又は立ち下がり時間を持つことができる。
Because the properties of the diodes 112, 114, 116 are nonlinear functions of applied voltage, the strobe signal can have a duration, a rise time, or a fall time that is less than the corresponding temporal characteristic of the LO signal at the LO inputs 102, 104.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
＊duration
[U] (formal) the length of time that sth lasts or continues: The school was used as a hospital for the duration of the war. * a contract of three years' duration
（OALDより引用）
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入力パッド１４０には、ボンド・ワイヤ除去が続く従来のワイヤボンディングにより取り付けることができる金の薄いディスク又は１つ又はそれより多いワイヤ・ボンド・ボールのような柔軟な入力接続部１４１が設けられている。
The input pad 140 is provided with a compliant input connection 141 such as a thin disc of gold, or one or more wire bond balls that can be attached by a conventional wirebonding followed by bond wire removal.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
＊followed byの後に続く事柄が時間的に後になる。
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ＩＦ導波路１３８の導体１３４、１３６を導体１０８、１１０にそれぞれ電気的に接続するダイオード１４６、１４８が設けられている。
Diodes 146, 148 are provided that electrically connect the conductors 134, 136 of the IF waveguide 138 to conductors 108, 110, respectively, of the strobe waveguide 106.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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導体１３４、１３６は、導波路（「中間周波数導波路」）１３８を形成するよう構成され、そして導電性入力パッド１４０へ各サンプリング・ダイオード１４２、１４４により接続されている。
The conductors 134, 136 are configured to form a waveguide ("intermediate frequency waveguide") 138 and are connected to a conductive input pad 140 by respective sampling diodes 142, 144.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図１のサンプリング回路１００は、約２．１６５ｍｍ×０．４００ｍｍ×０．４ｍｍの寸法を持つＧａＡｓ基板上に形成されるのが好都合である。
The sampling circuit 100 of FIG. 1 is conveniently defined on a GaAs substrate having dimensions of about 2.165 mm by 0.400 mm by 0.4 mm.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図１の例においては、ダイオード１１２、１１４、１１６は、導波路の軸に沿って軸方向に約０．１２５ｍｍ、０．０７５ｍｍ及び０．０３０ｍｍのそれぞれの距離だけ分離されており、そして２７０ｆＦ、９０ｆＦ及び４５ｆＦのそれぞれのキャパシタンスを持つ。
In the example of FIG. 1, the diodes 112, 114, 116 are separated longitudinally along a waveguide axis by 120 by respective distances of about 0.125 mm, 0.075 mm, and 0.030 mm and have respective capacitances of 270 fF, 90 fF, and 45 fF.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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導電性ストラップ１０３は、接地導体１１１の部分１０５、１０７を接続する。ダイオード１１２Ｊ（Ｊ＝１，…，７）、ダイオード１１４Ｊ（Ｊ＝１，…，７）、及びダイオード１１６Ｊ（Ｊ＝１，…，７）（本明細書では集約的にダイオード１１２、１１４、１１６とそれぞれ称する。）は、導体１０８を導体１１０に電気的に接続する。
Diodes 112j, J=1, . . . , 7, diodes 114j, J=1,. . ., 7, and diodes 116j, J=1, . . . , 7 (referred to herein collectively as diodes 112, 114, 117) electrically connect the conductor 108 to the conductor 110.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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接地導体１１１が、サンプリング回路１００の外周部の一部の周りに延在し、そして基板１０１の反対表面（図１に図示せず）上の導電層により形成された接地平面にワイヤ又は他の接続方法を用いて電気的に接続されている。
A ground conductor 111 extends around a portion of a perimeter of the sampling circuit 100 and is electrically connected to a ground plane defined by a conductive layer on an opposing surface (not shown in FIG. 1) of the substrate 101 with bond wires or other connection method.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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図１を参照すると、サンプリング回路１００は、基板１０１上に形成され、そして導体１０８、１１０により形成されるコプレーナ・ストリップ導波路（「ストローブ導波路」）１０６と伝達状態にある局部発振器（ＬＯ）入力部１０２、１０４を含む。
With reference to FIG. 1, a sampling circuit 100 is formed on a substrate 101 and includes local oscillator (LO) inputs 102, 104 in communication with a coplanar strip waveguide ("strobe waveguide") 106 that is defined by conductors 108, 110.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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本発明のこれら及び他の利点が添付図面を参照して以下に説明される。
These and other features and advantages of the invention are set forth below with reference to the accompanying drawings.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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追加の実施形態に従って、ストローブ導波路及び中間周波数導波路は、共通軸に関してほぼ対称に配置されている。
According to additional embodiments, the strobe waveguide and the intermediate frequency waveguide are approximately symmetrically placed with respect to a common axis.
特許公表２００４－５３１１３０
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一部の実施形態においては、局部発振器信号が奇数モードで、そして信号サンプルが偶数モードで、ストローブ導波路及び中間周波数導波路をそれぞれ伝搬する。
In some embodiments, the local oscillator signal propagates as an odd mode and the signal samples propagate as an even mode on the strobe waveguide and the intermediate frequency waveguide, respectively.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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導波路は、局部発振器信号及びストローブ信号が異なる導波路モードで伝搬するよう構成されている。
The waveguides are configured so that the local oscillator signal and the strobe signal propagate in different waveguide modes.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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当該ストローブ導波路は、局部発振器信号（例えば、一連の１つ又はそれより多いストローブ・パルスのようなもの）をサンプリング・ダイオードに与えて、中間周波数導波路に導かれる信号サンプルを生成するよう構成されている。
The strobe waveguide is configured to provide a local oscillator signal (such as a series of one or more strobe pulses) to the sampling diodes to produce signal samples that are directed to the intermediate frequency waveguide.
特許公表２００４－５３１１３０
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その上、反対極性のストローブ・パルス部分は、ＩＦ導波路の各導体に供給される。
In addition, strobe pulse portions of opposite polarity are delivered to the respective conductors of the IF waveguide.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ＮＬＴＬは、信号入力部に印加された信号の一部分をＩＦ導波路にスイッチング可能状態で伝達する１つ又はそれより多いサンプリング・ダイオードと電気的伝達可能状態にある。
The NLTL is in electrical communication with one or more sampling diodes that switchably communicates portions of a signal applied to the signal input to the IF waveguide.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ストローブ導波路には、非線形伝送線（「ＮＬＴＬ」）又はショックラインを形成するよう構成された１つ又はそれより多いショットキー・ダイオード、バラクタ、又は超段階ダイオード（ｈｙｐｅｒａｂｒｕｐｔ ｄｉｏｄｅｓ）が設けられている。
The strobe waveguide is provided with one or more Schottky diodes, varactors, or hyperabrupt diodes configured to form a nonlinear transmission line ("NLTL") or shockline.
特許公表２００４－５３１１３０
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XXX which (that) --------- is provided.
のような頭でっかちの文章を避ける一つの方法として、
XXX is provided which (that) ---------.
というようなスタイルにする方法がある。
下記の英文はそのスタイルである。
サンプリング回路を含む基板に電気信号を供給するよう構成されているエアーライン遷移部を含むサンプリング・システムが提供される。
Sampling systems are provided that include airline transitions that are configured to deliver an electrical signal to a substrate that includes a sampling circuit.
特許公表２００４－５３１１３０
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特定の実施形態に従って、上記相互接続部は、例えば、ワイヤ・ボンディング・プロセスにより形成された１つ又はそれより多いボンド・ボール（ｂｏｎｄ ｂａｌｌｓ）を含むことができる導電性パック（ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ ｐｕｃｋ）である。
According to particular embodiments, the interconnect is a conductive puck that can include one or more bond balls formed by, for example, a wire bonding process.
特許公表２００４－５３１１３０
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代表的実施形態においては、この導電性ハウジングは、空洞の中に延在し且つエアーライン導体に電気的に接触する相互接続部が設けられている基板を保持するよう構成されている。
In representative embodiments, the conductive housing is configured to retain a substrate that is provided with an interconnect that extends into the cavity and electrically contacts the airline conductor.
特許公表２００４－５３１１３０
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当該遷移装置は、ケーブル又は導波路を保持し且つ電気信号を、導電性ハウジング内の孔又は類似の空洞の軸に沿った又はほぼ平行に配置されているエアーライン導体に供給するよう構成された１つ又はそれより多いアダプタを含む。
The transitions include one or more adapters configured to retain the cable or waveguide and deliver the electrical signal to an airline conductor that is situated along or approximately parallel to an axis of a bore or similar cavity in a conductive housing.
特許公表２００４－５３１１３０
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導波路、又は同軸ケーブルのようなケーブル上を伝搬する電気信号を基板に供給するエアーライン遷移装置が設けられる。
Airline transitions are provided for delivering an electrical signal propagating on a waveguide or cable, such as a coaxial cable to a substrate.
特許公表２００４－５３１１３０
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これら及び他の欠点に鑑み、改善されたサンプリング方法、サンプリング装置、並びに信号源をサンプリング・システムに接続する方法及び装置が、必要とされる。
In view of these and other shortcomings, improved sampling methods, sampling apparatus, as well as methods and apparatus for connecting signal sources to sampling systems are needed.
特許公表２００４－５３１１３０
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そのようなシステムの場合、信号のほんの小さい部分のみが測定されるので、データ獲得が遅く、そして測定におけるランダム雑音は、信号の平均化により効果的に低減されることができない。
With such systems, because only a small fraction of a signal is measured, data acquisition is slow and random noise in measurements cannot be efficiently reduced by signal averaging.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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他のサンプリング・システムは、サンプリングを比較的低いサンプリング速度でのみ可能にし、それにより信号獲得は、測定を多くの信号周期にわたり必要とする。
Other sampling systems permit sampling only at relatively low sampling rates so that signal acquisition requires measurements over many signal periods.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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一部の従来技術システムにおいては、信号アーチファクトは、サンプリング・システムを試験されるべきデバイスに接続することにより導入され、それにより測定が当該接続により損なわれる。
In some prior art systems, signal artifacts are introduced by connection of the sampling system to a device to be tested so that measurements are corrupted by the connection.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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その結果、当該接続部分に到着する電気信号は、一部反射され、そしてこれらの反射は、信号の測定におけるアーチファクトとして現れ、又は信号源に送信されることができ、それによりサンプリング・システムに与えられる信号を変化させる。
As a result, electrical signals arriving at the connection are partially reflected and these reflections can appear as artifacts in the measurement of the signal or can be transmitted to the signal source, thereby changing the signal presented to the sampling system.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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例えば、高速電気信号の伝搬は、その電気信号が伝搬するケーブル及び伝送線の導波路特性に依存し、そしてケーブル又は導波路へのサンプリング・システムの接続は一般的に、導波路に負荷を与え、又は不整合のインピーダンスを与える。
For example, the propagation of high speed electrical signals depends on the waveguide properties of cables and transmission lines on which the electrical signals propagate, and the connection of a sampling system to a cable or a waveguide generally loads the waveguide or presents an unmatched impedance.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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他の信号アーチファクトが、測定されるべき信号へのサンプリング・システムの接続により引き起こされる。
Other signal artifacts are caused by the connection of the sampling system to the signal to be measured.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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ストローブ・キックアウト及びブローバイにより引き起こされた信号アーチファクトを回避するのが好ましいことは明らかであろう。
It will be apparent that signal artifacts caused by strobe kickout and blowby are preferably avoided.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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サンプリング・システムは、サンプリング・ダイオードを導通状態と非導通状態との間で速いストローブ・パルスを用いてスイッチングすることによりサンプリング窓を確立し、そして典型的にはストローブ・パルスの一部分がデバイスに試験中に送信される。
Sampling systems establish a sample window by switching a sampling diode between conducting and non-conducting states with a fast strobe pulse, and typically a portion of the strobe pulse is transmitted to the device under test.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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速いストローブ・パルスがそのようなサンプリング・システムにとって必要とされている一方、そのサンプリング・システムへの入力信号の接続は信号アーチファクトを導入しないばかりでなく、信号を試験中に乱さないことも望ましい。
While a fast strobe pulse is needed for such a sampling system, it is also desirable that the connection of an input signal to the sampling system neither introduce signal artifacts nor disturb the signal under test.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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従って、高速電気信号に対して、ストローブ・パルスは、短い立ち上がり時間、立ち下がり時間又は持続時間を持つべきである。
Accordingly, for high speed electrical signals, the strobe pulse should have a short rise time, fall time, or duration.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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サンプルの持続時間及び大きさは、立ち上がり時間、立ち下がり時間又は持続時間のような、ストローブ・パルスの１つ又はそれより多い時間特性により決定される。
The duration and magnitude of the sample is determined by one or more temporal properties of the strobe pulse, such as rise time, fall time, or duration.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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サンプリング・ダイオードは、ストローブ・パルスによりスイッチングされ、次いで入力信号の一部分（即ち、１個のサンプル）が、信号獲得システムに伝達される。
The sampling diodes are switched by the strobe pulse, and then a portion (i.e., a sample) of the input signal is communicated to a signal acquisition system.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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等価時間サンプリングは、例えば、Ｍａｒｓｌａｎｄ他の米国特許Ｎｏ．５，３７８，９３９（「Ｍａｒｓｌａｎｄ」）に記載されており、それは本明細書に援用されている。
Equivalent time sampling is described in, for example, Marsland et al., U.S. Pat. No. 5,378,939 ("Marsland") which is incorporated herein by reference.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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等価時間サンプリングにおいて、周期的入力信号は、その入力信号の最高周波数成分より非常に低い速度で当該入力信号の多くの繰り返しにわたってサンプリングされ、そして測定は、単一の周期中の入力信号の推定を与えるよう組み立てられる。
In equivalent time sampling, a periodic input signal is sampled at a rate that is much less than the highest frequency component of the input signal over many repetitions of the input signal and the measurements are assembled to provide an estimate of the input signal during a single period.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
＊measurement
[U]測量, 測定
[C](測定して得た)寸法, 大きさ, 広さ, 長さ, 厚さ, 深さ
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いわゆる「実時間（リアル・タイム）」ディジタイザは、典型的には、約１－２ギガサンプル（Ｇｓａｍｐｌｅ）／秒より大きくないサンプリング速度を有し、それにより数ＧＨｚより大きい周波数の周波数成分を有する電気信号は、いわゆる「等価時間（ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ ｔｉｍｅ）」サンプリングを用いて特徴付けされねばならない。
So-called "real time" digitizers typically have sampling rates no greater than about 1-2 Gsample/sec so that electrical signals having frequency components at frequencies greater than a few GHz must be characterized using so-called "equivalent time" sampling.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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高速電気信号の測定は、信号を一連の時間遅延でサンプリングし、次いで信号の振幅を時間の関数としてプロットすることにより実行されることができる。
The measurement of high speed electrical signals can be performed by sampling the signals at a series of time delays and then plotting signal amplitudes as a function of time.
特許公表２００４－５３１１３０
WO02084786より引用
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本発明には多くのさらなる実施形態があることは理解されることであろう。
It will be appreciated that there are many further embodiments of the present invention.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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図１を参照すると、携帯情報端末（PDA: personal digital assistant）１は、平坦な直方体ボディ２を有している。
Referring to Figure 1, a personal digital assistant (PDA) 1 comprises a flat cuboid body 2.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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本発明の諸実施形態についてこれから、例としての付属の図面を参照しつつ説明する。
Embodiments of the present invention will now be described, by way of example, with reference to the accompanying drawings, in which: Figure 1 shows --.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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本発明に基づくディスプレイは、電子手帳、パソコン、携帯電話などを含む電子装置において用いてもよい。
A display according to the present invention may be employed in electronic apparatuses, including personal digital organisers, computers, mobile phones and the like.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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最適な３Ｄのパフォーマンスが得られるのは、前記ストリングのそれぞれの長さが、それを照射する狭い光源とその隣の狭い光源との間の間隔と実質同じであるときである。
Optimal 3D performance is obtained when the length of each of said strings is substantially the same as the spacing between its illuminating narrow source and a neighbouring narrow source thereof.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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その場合、画像の暗い部分は低輝度のバックライトで照らされ、画像の明るい部分は高輝度の光のバックライトで照らされる。
Thus, parts of the image that are dim are backlit with low intensity light and parts of the image that are bright are backlit with high intensity light.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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また、これらの領域から放出される光の強度は表示される画像の局所的な強度に依存して独立に変化させてもよい。
Also, the intensity of the light emitted from these regions may be varied independently in dependence on the local intensity of the image being displayed.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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これらの領域は異なる色の光を放出することができ、カラー画像の生成のために好ましくは繰り返しパターンに配列されている。
These regions may emit different coloured light and, are preferably arranged in a repeating pattern, for the production of colour images.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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ピクセルが長方形状のグリッドに配列されているところでは、帯が出たりするような望ましくない画像乱れは、制御電極をある角度（θ）傾けることによって軽減させたり、解消したりすることができる。傾ける角度は、ピクセルの縦列に対して好ましくは10°以下であるが、これは必須ではない。
Where the pixels are arranged in a rectangular grid, unwanted artefacts, such as banding, can be reduced or eliminated by the control electrodes being skewed by an angle (0), preferably but not essentially 10° or less, relative to the pixel columns.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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制御電極を二次元グリッドに配列することにより、２Ｄ画像と３Ｄ画像を実質任意の仕方で混合することが可能になる。
By arranging the control electrodes in a two-dimensional grid, it is possible to mix 2D and 3D images in a substantially arbitrary manner.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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これにより、３Ｄモードで使われる有機発光ダイオード構造の部分を変更して、それによりディスプレイ全体としての耐用寿命を延長することが可能になる。
This enables the portion of the organic light emitting diode structure used in 3D mode to be changed and thereby extend the useful life of the display as a whole.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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あるいはまた、前記光源は、細い、互いに隣り合わせの、平行で、独立して制御できる制御電極を有しうる。
Alternatively, the light source may comprise thin, side-by-side, parallel, independently controllable control electrodes.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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好ましくは、前記光源は前記アレイと実質同じ広がりをもち、前記アレイに平行な面である発光面を有している。アレイは液晶ディスプレイのピクセルのアレイなどである。
Preferably, the light source has a light emitting face which is substantially coextensive with and plane parallel to the array, which may be an array of pixels of a liquid crystal display.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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狭い光源は点光源でもよい。しかし、狭い光源が細長く、間隔方向に実質垂直に整列しているほうが製造が容易になるので好ましい。
The narrow light sources could be point sources. However, it is preferred that the narrow light sources be elongate and aligned substantially perpendicular to the spacing direction as this simplifies manufacture.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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US-A-4717949で開示されている装置は、光源の分離のために広い光源として動作するにはふさわしくないものになっている。
The separation of the light sources in US-A-4717949 makes the device disclosed therein unsuitable for operating as a broad light source.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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前述した変調器と光源との構成は、当該ディスプレイ装置の画像形成領域全体を占めなくてもよい。
The aforementioned arrangement of modulators and light sources need not occupy the whole image-forming extent of the display device.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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これにより、全光源を発光させることによって２Ｄ画像を提供することができ、狭い光源だけを選択的に発光させることによって３Ｄ光源を提供することができる。
Thus, a 2D image can be provided by energising the whole light source and a 3D image can be provided by selectively energising just the narrow light sources.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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本発明によれば、光源および該光源からの光を変調するための光強度変調器のアレイを有するディスプレイ装置であって、前記光源が単一の広い光源またはある間隔方向に離間された複数の狭い光源として動作するよう構成され、前記光源および前記アレイが、各変調器が前記狭い光源のうちの一つのみによって有意に照射され、前記間隔方向に平行な変調器のストリングが狭い光源のそれぞれによって照射されるようなディスプレイ装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a display device comprising a light source and an array of light intensity modulators for modulating light from the light source, wherein the light source is configured for operation as a single broad light source or a plurality of narrow light sources, spaced in a spacing direction, and the light source and the array are arranged such that each modulator is significantly illuminated by only one of said narrow sources and a string of modulators, parallel to said spacing direction, is illuminated by each narrow light source.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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これらの既知の技術には、ディスプレイが２Ｄディスプレイまたは３Ｄディスプレイのいずれかとして構築されなければならないという問題がある。
These known techniques suffer from the problem that a display must be constructed as either a 2D display or a 3D display.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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そのような装置は一般に二次元（２Ｄ）画像を生成する。
Such devices generally produce a two-dimensional (2D) image.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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液晶マトリクスを使ってピクセル単位でバックライトが変調される液晶ディスプレイ装置は周知である。
Liquid crystal display devices, in which a backlight is modulated on a pixel-by-pixel basis using a liquid crystal matrix, are well-known.
特許公表２００７－５００８６５
WO2005011293
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荷電粒子３３が第１電極３４の近傍などの第１の端の位置にあるとき、１５ボルトなどの電位差の結果として、表示画素３の様相は、例えば黒色となる。
When the charged particles 33 are in a first extreme position, e. g. near the first electrode 34, as a result of the potential difference being e. g. 15 Volts, the appearance of the display pixel 3 is e. g. black.
特許公表２００７－５０３６１０
WO2005022499より引用